Цей метод відомий як синхротронна рентгенівська рентгенівська скануюча тунельна мікроскопія або SX-STM. Рентгенівська спектроскопія, заснована на фотопоглинанні електронів основного рівня, дає змогу ідентифікувати елементи матеріалів точно та безпосередньо.
Згідно з професором Со Вай Хлу, спектри подібні до унікальних відбитків пальців, що дають змогу точно визначити склад матеріалу.
«Цей метод і концепція, перевірені в нашому дослідженні, відкривають нові можливості в галузі рентгенівських досліджень і досліджень на наномасштабі, — зазначає Толулоп Майкл Аджайї, провідний автор дослідження, який виконує цю роботу в рамках своєї докторської дисертації. — Використання рентгенівського випромінювання для виявлення і характеризації окремих атомів може спричинити революцію в галузі досліджень, а також призвести до розроблення нових технологій у галузях квантової інформації та виявлення мікроелементів в екологічних і медичних дослідженнях, щоб назвати лише деякі з них. Це досягнення також відкриває шлях до розробки передових інструментів у галузі матеріалознавства».